Technologische vooruitgang door middel van bijvoorbeeld HD-camera's, LED-belichting, versnelde verwerkingssnelheid etc. heeft in de afgelopen 10 jaar geleid tot verbeteringen in de technologie voor de gradering van appelen. Dit geldt met name voor het graderen van externe defecten.
Het appeldefectsysteem van Ellips is een van de meest accurate defectsystemen in de wereld. De prestaties van het systeem zijn nu verder verbeterd door de toevoeging van functies voor beurse plekken en splijtingen in de steel.
Enkele kenmerken van het appeldefectsysteem van Ellips:
- Gemakkelijk te gebruiken zonder enige training
- In staat om de meest voorkomende externe defecten op te sporen (beurse plekken, schade door vogels, bittere pitten, etc.)
- Zelfs accuraat in het sporen van beurse plekken op rode appelen
- In staat om defecten op te sporen op meerdere beelden. Dit vermijdt het dubbel tellen van hetzelfde defect.
Concurrerende systemen missen deze accuratesse, omdat ze een enkel defect meerdere keren tellen. Afhankelijk van het aantal beelden die het defect laten zien, kan een defect zo vaak als acht keer opnieuw meegeteld worden. Dit leidt tot een verlies in goed product.
Hoewel het gebruik van HD-camera's leidt tot een verbeterde visuele identificatie van defecten, creëert het ook enorme hoeveelheden data. Ellipsis pakt dit aan met meer rekenkracht en meer geavanceerde software-algoritmes.
Hoge resolutie is onder andere nodig bij het opsporen van scheuren rond de steel.
Ellips bevindt zich op Fruit Logistica op 3,4 en 5 februari 2016 te Berlijn in Hal 6.1 A-03
Voor meer informatie, zie www.ellips.com.